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脈沖測試儀是檢測什么用的?

  通過脈沖測驗,工程技術人員能夠獲得更多的器件信息,更準確地分析和把握器件的行為特征。例如,使用脈沖測驗技術能夠對納米器件進行瞬態測驗,確認其轉移函數,然后分析待測材料的特征。

  脈沖測驗儀的測量對于具有恒溫限制的器件也是必需的,例如SOI器件、FinFET和納米器件,能夠避免自熱效應,避免自熱效應掩蓋研討人員所關懷的呼應特征。器件工程師還能夠使用脈沖測驗技術分析電荷捕獲效應。在晶體管打開后電荷捕獲效應會下降漏極電流。隨著電荷逐步被捕獲到柵介質中,晶體管的閾值電壓由于柵電容內建電壓的升高而增大;然后漏極電流就下降了。

  脈沖測驗儀為人們和研討納米材料、納米電子和現在的半導體器件供給了一種重要方法。脈沖測驗有兩種不同的類型:加電壓脈沖和加電流脈沖。

  電壓脈沖測驗產生的脈沖寬度比電流脈沖測驗窄得多。這一特性使得電壓脈沖測驗更適合于熱傳輸實驗,其間咱們所關懷的時間窗口只要幾百納秒。通過高精度的幅值和可編程的上升與下降時間能夠控制納米器件上的能耗巨細。電壓脈沖測驗可用于可靠性測驗中的瞬態分析、電荷捕獲和交流應力測驗,也可用于產生時鐘信號,模擬重復控制線,例如存儲器讀寫周期。

  電流脈沖測驗與電壓脈沖測驗十分類似。其間,將指定的電流脈沖加載到DUT上,然后測量器件兩端產生的電壓。電流脈沖測驗常用于測量較低的電阻,或許獲取器件的I-V特征曲線,而不會使DUT產生大量的能耗,避免對納米器件的損害或損壞。

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