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脈沖測試儀起到什么作用呢?

  脈沖測試儀是一種能夠減少器件總能耗的測量技術。它經過減少焦耳熱效應(例如I2R和V2/R),避免對小型納米器件可能構成的損壞。脈沖測試儀采用足夠高的電源對待測器件(DUT)施加間隔很短的脈沖,產生高品質的可測信號,然后去掉信號源。

  經過脈沖測試儀,工程技術人員能夠獲得更多的器件信息,更準確地分析和掌握器件的行為特征。例如,使用脈沖測試儀技術能夠對納米器件進行瞬態檢驗,確認其轉移函數,然后分析待測材料的特征。脈沖測試儀測量關于具有恒溫約束的器件也是必需的,例如SOI器件、FinFET和納米器件,能夠避免自熱效應,避免自熱效應掩蓋研討人員所關心的照應特征。

  器件工程師還能夠使用脈沖測試儀技術分析電荷抓獲效應。在晶體管開啟后電荷抓獲效應會下降漏極電流。跟著電荷逐漸被抓獲到柵介質中,晶體管的閾值電壓由于柵電容內建電壓的升高而增大;然后漏極電流就下降了。

  脈沖測試儀為人們和研討納米材料、納米電子和現在的半導體器件供給了一種重要方法。脈沖測試儀有兩種不同的類型:加電壓脈沖和加電流脈沖。

  電壓脈沖測試儀產生的脈沖寬度比電流脈沖測試儀窄得多。這一特性使得電壓脈沖測試儀更適合于熱傳輸實驗,其間咱們所關心的時間窗口只要幾百納秒。


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