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脈沖測試儀的測量的作用

  通過脈沖測驗,工程技術人員可以獲得更多的器件信息,更準確地分析和把握器件的行為特征。例如,運用脈沖測驗技術可以對納米器件進行瞬態測驗,確認其搬運函數,然后分析待測資料的特征。

  脈沖測驗儀的測量關于具有恒溫限制的器件也是必需的,例如SOI器件、FinFET和納米器件,可以避免自熱效應,避免自熱效應掩蓋研討人員所關心的照應特征。器件工程師還可以運用脈沖測驗技術分析電荷捕獲效應。在晶體管打開后電荷捕獲效應會下降漏極電流。隨著電荷逐漸被捕獲到柵介質中,晶體管的閾值電壓因為柵電容內建電壓的升高而增大;然后漏極電流就下降了。

  脈沖測驗儀為人們和研討納米資料、納米電子和現在的半導體器件供給了一種重要手法。脈沖測驗有兩種不同的類型:加電壓脈沖和加電流脈沖。

  電壓脈沖測驗產生的脈沖寬度比電流脈沖測驗窄得多。這一特性使得電壓脈沖測驗更適合于熱傳輸試驗,其間我們所關心的時刻窗口只需幾百納秒。通過高精度的幅值和可編程的上升與下降時刻可以控制納米器件上的能耗巨細。電壓脈沖測驗可用于可靠性測驗中的瞬態分析、電荷捕獲和溝通應力測驗,也可用于產生時鐘信號,模仿重復控制線,例如存儲器讀寫周期。

  電流脈沖測驗與電壓脈沖測驗十分類似。其間,將指定的電流脈沖加載到DUT上,然后測量器件兩頭產生的電壓。電流脈沖測驗常用于測量較低的電阻,或許獲取器件的I-V特征曲線,而不會使DUT產生很多的能耗,避免對納米器件的危害或損壞。


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